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            EEPW首頁(yè) > 電源與新能源 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 晶體硅太陽(yáng)電池減反射膜的研究

            晶體硅太陽(yáng)電池減反射膜的研究

            作者: 時(shí)間:2011-07-25 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            摘要:在表面形成一層減薄膜是提高的光電轉(zhuǎn)換效率比較可行且降低成本的方法。應(yīng)用PECVD(等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積)系統(tǒng),采用SiH4和NH3氣源以制備氮化硅薄膜。探索了PECVD生長(zhǎng)氮化硅薄膜的基本物化性質(zhì)以及在沉積過(guò)程中反應(yīng)壓強(qiáng)、反應(yīng)溫度、硅烷氨氣流量比和微波功率對(duì)薄膜性質(zhì)的影響。通過(guò)大量實(shí)驗(yàn),分析了氮化硅薄膜的相對(duì)最佳沉積參數(shù),并得出制作戰(zhàn)膜的優(yōu)化工藝。
            關(guān)鍵詞:;PECVD減;氮化硅薄膜

            0 引言
            太陽(yáng)能光伏技術(shù)是將太陽(yáng)能轉(zhuǎn)化為電力的技術(shù),其核心是半導(dǎo)體物質(zhì)的光電效應(yīng)。最常用的半導(dǎo)體材料是硅。光伏電池由P型和N型半導(dǎo)體構(gòu)成,一個(gè)為正極,一個(gè)為負(fù)極。陽(yáng)光照射在半導(dǎo)體上時(shí),兩極交界處產(chǎn)生電流,陽(yáng)光強(qiáng)度越大,電流就越強(qiáng)。太陽(yáng)能光伏系統(tǒng)不僅只在強(qiáng)烈陽(yáng)光下運(yùn)作,在陰天也能發(fā)電。硅是當(dāng)前太陽(yáng)能光伏電池的主流。目前硅電池光電轉(zhuǎn)換效率可以達(dá)到20%,并已實(shí)現(xiàn)大規(guī)模生產(chǎn)。除效率外,光伏電池的厚度也很重要。薄的硅片(wafer)意味著較少的硅材料消耗,從而可降低成本。在查閱了大量國(guó)內(nèi)外相關(guān)文獻(xiàn),并結(jié)合我國(guó)對(duì)硅太陽(yáng)電池技術(shù)開(kāi)發(fā)的迫切需要,在制備太陽(yáng)電池減反射膜(氮化硅薄膜)的工藝中,對(duì)氣體流量比、微波功率、沉積壓強(qiáng)和溫度對(duì)減反射膜性質(zhì)的影響進(jìn)行了,通過(guò)大量有效的工作及一系列工藝數(shù)據(jù),得出了制作減反射膜,分析了氮化硅薄膜的相對(duì)最佳沉積參數(shù)和優(yōu)化工藝。

            1 減反射膜原理
            在了解減反射薄膜原理之前,要先了解幾個(gè)簡(jiǎn)單的概念:第一,光在兩種媒質(zhì)界面上的振幅反射系數(shù)為(1-ρ)/(1+ρ),其中ρ為界面處兩折射率之比。第二,若反射光存在于折射率比相鄰媒質(zhì)更低的媒質(zhì)內(nèi),則相移為180°;若該媒質(zhì)的折射率高于相鄰媒質(zhì)的折射率,則相移為零。第三,光因受薄膜上下兩個(gè)表面的反射而分成2個(gè)分量,這2個(gè)分量將按如下方式重新合并,即當(dāng)它們的相對(duì)相移為180°時(shí),合振幅便是2個(gè)分量振幅之差;稱(chēng)為兩光束發(fā)生相消干涉。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/178831.htm

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            如圖1所示膜有2個(gè)界面就有2個(gè)矢量,每個(gè)矢量表示一個(gè)界面上的振幅反射系數(shù)。如果膜層的折射率低于基片的折射率,則每個(gè)界面上的反射系數(shù)都為負(fù)值,這表明相位變化為180°。當(dāng)膜層的相位厚度為180°時(shí),即膜層的光學(xué)厚度為某一波長(zhǎng)的1/4時(shí),則2個(gè)矢量的方向完全相反,合矢量便有最小值。如果矢量的模相等,則對(duì)該波長(zhǎng)而言;2個(gè)矢量將完全抵消,于是反射率為零。鍍制有減反射薄膜的太陽(yáng)電池的反射率R為:
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            式中:R1,R2分別為外界介質(zhì)與膜和膜與硅表面上的菲涅爾反射系數(shù);△為膜層厚度引起的位相角。其中:
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            式中:n,n0,nSi分別為外界介質(zhì)、膜層和硅的折射率;λ入射光的波長(zhǎng);d為膜層的實(shí)際厚度;nd膜層的光學(xué)厚度。當(dāng)波長(zhǎng)λ0為光的垂直入射時(shí),
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            因此,完善的單層減反射薄膜條件是膜層的光學(xué)厚度為1/4波長(zhǎng),其折射率為基片和入射媒質(zhì)折射率相乘積的平方根。


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            關(guān)鍵詞: 研究 反射 電池 太陽(yáng) 晶體

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