RLC串聯(lián)電路諧振特性的Multisim仿真
將圖1所示電路參數(shù)改為R=5 kΩ,使回路的電阻增大,運(yùn)行電路仿真開關(guān)后在波特圖儀面板上顯示出電阻兩端電壓的幅頻特性曲線如圖3所示。本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/177057.htm
由式(1)、(3)及圖3測試表明,電阻的改變對電路的諧振頻率不產(chǎn)生影響,但影響電路的品質(zhì)因數(shù),從而影響頻率特性曲線的平坦度。
通過紅色游標(biāo)指針可讀出諧振頻率f0=1 585 Hz,fH=8 302 Hz,fL=301.85 Hz,計(jì)算出通頻帶寬BW=fH-fL=8 302-301.85=8 000.15 Hz, 品質(zhì)因數(shù),表明頻率選擇性變差。
1.2 用AC交流分析功能進(jìn)行頻率特性的Multisim仿真測試
創(chuàng)建仿真實(shí)驗(yàn)電路如圖1所示,其中的波特圖儀可去掉不用。
啟動Simulate菜單中Analyses下的AC Analyses…命令,在AC Analyses對話框中,改動Output為節(jié)點(diǎn)3、VerticalScale為Liner。
點(diǎn)擊AC Analyses對話框上的Simulate按鈕,出現(xiàn)一個(gè)AC Analyses窗口,如圖4所示。
通過游標(biāo)指針可讀出諧振頻率、限頻率和下限頻率,其結(jié)果和波特圖儀的結(jié)果基本一致。
將圖1所示電路參數(shù)增大,頻率特性曲線的平坦度發(fā)生變化。
2 結(jié)束語
用硬件實(shí)驗(yàn)儀器對RLC串聯(lián)電路諧振特性進(jìn)行測試時(shí),儀器輸出參數(shù)調(diào)整較為繁瑣,信號頻率偏高或偏低時(shí)波形顯示不穩(wěn)定。由于受實(shí)驗(yàn)儀器的限制無法進(jìn)行電路的AC交流頻率特性分析,用Multisim軟件仿真解決了這一問題,將計(jì)算機(jī)仿真軟件Multisim引入到電路實(shí)驗(yàn)中,使電路的分析、仿真、測試非常方便,特別便于電路參數(shù)改變時(shí)的測試。所述方法具有實(shí)際應(yīng)用意義,創(chuàng)新點(diǎn)是解決了RLC串聯(lián)電路諧振特性的工作波形及參數(shù)不易或無法用電子實(shí)驗(yàn)儀器進(jìn)行分析測試的問題。
將電路的硬件實(shí)驗(yàn)方式向多元化方式轉(zhuǎn)移,利于培養(yǎng)知識綜合、知識應(yīng)用、知識遷移的能力,使電路分析更加靈活和直觀。
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