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            EEPW首頁 > 電源與新能源 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 基于超級電容器儲能的直流DVR裝置設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

            基于超級電容器儲能的直流DVR裝置設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

            作者: 時間:2013-05-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            理想的數(shù)/模(),其輸出電壓或電流與輸入呈理想的線性關(guān)系,不受其它外部因素(如溫度)的影響。當(dāng)然,實(shí)際應(yīng)用中,必然會受各種外部因素的影響而出現(xiàn)誤差,溫度就是一個明顯因素,輸出會隨溫度的變化而漂移。當(dāng)用高精度DAC精確建立偏置電壓時,這一點(diǎn)尤為重要。我們可以校準(zhǔn)所有靜態(tài)漂移,而隨溫度變化部分卻很難補(bǔ)償,溫度引起的誤差主要是:失調(diào)誤差和增益誤差。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/175171.htm

            本文介紹了如何確定DAC的失調(diào)誤差、增益誤差與溫度的關(guān)系,幫助設(shè)計(jì)者在設(shè)計(jì)過程中預(yù)先考慮這些誤差因素,掌握這些知識也有助于保證系統(tǒng)在溫度特性方面滿足規(guī)范要求。

            失調(diào)和增益誤差

            如上所述,很多誤差因素會影響DAC性能,比如失調(diào)誤差和增益誤差,DAC器件數(shù)據(jù)手冊的“靜態(tài)精度”參數(shù)部分顯示了這些因素的影響。圖1為MAX5134 16位、4通道DAC的規(guī)格。

            注4:增益和失調(diào),點(diǎn)位于100mV和AVDD

            圖1:MAX5134的失調(diào)和增益誤差。

            這些參數(shù)對DAC性能意味著什么?

            失調(diào)誤差通常定義器件在過零點(diǎn)時的輸出,對于單極性輸出,該值是零碼對應(yīng)的輸出,通常稱為零碼誤差;對于雙極性輸出,則定義在中間碼值對應(yīng)的DAC輸出。

            增益誤差是傳輸函數(shù)的斜率,對于MAX5134,斜率介于理論值的99.5%-100.5%之間。

            圖2給出了失調(diào)誤差和增益誤差,注意,失調(diào)和增益誤差可以為正,也可以為負(fù)。

            圖2:失調(diào)和增益誤差。

            通常我們不會直接測量失調(diào)和增益誤差,如果一個單極性器件表現(xiàn)出負(fù)的失調(diào)誤差,零碼處的結(jié)果顯然不正確。因?yàn)閱螛O性DAC通常采用單路正電源供 電,DAC將無法產(chǎn)生負(fù)值。可以測試兩個點(diǎn),然后計(jì)算得到失調(diào)和增益誤差,一個測試點(diǎn)靠近零碼,另一側(cè)試點(diǎn)靠近最大碼值,甚至位于最大碼值。對于MAX5134,可以選擇100mV和電源AVDD兩個測試點(diǎn),測試條件參見圖1注釋4 (注4:增益和失調(diào)測試,測試點(diǎn)位于100mV和AVDD,參見MAX5134數(shù)據(jù)手冊,可從Maxim網(wǎng)站下載)。

            下面考慮溫度的影響,失調(diào)誤差和增益誤差都會隨著溫度的變化發(fā)生漂移,對于那些利用DAC準(zhǔn)確設(shè)置偏置電壓的應(yīng)用,溫漂的影響更大。如果失調(diào)和增益誤差固定,則可通過多種技術(shù)進(jìn)行校準(zhǔn)??偟膩碚f,溫漂校準(zhǔn)是一項(xiàng)非常復(fù)雜的工作,首先需要測量溫度,然后根據(jù)溫度值采取相應(yīng)的補(bǔ)償。

            計(jì)算示例和典型結(jié)果

            此處以MAX5134為例,通過對大量器件的評估統(tǒng)計(jì),我們可以得到最大靜態(tài)誤差。我們先定義幾個概念或等式,以便計(jì)算誤差范圍。

            VOUT = N × G × (GE + GET) + OE + OET

            此處:VOUT = 輸出電壓

            N = DAC輸入碼值

            G = DAC增益

            GE = DAC增益誤差

            GET = 溫度變化產(chǎn)生的附加增益誤差

            OE = DAC失調(diào)誤差

            OET = 溫度導(dǎo)變化產(chǎn)生的附加失調(diào)誤差

            VREF = 基準(zhǔn)電壓

            NMAX = DAC最大碼值

            參數(shù)的失調(diào)誤差漂移是±4μV/℃,采用箱形法。為了確定溫度失調(diào),可以利用溫漂系數(shù)乘以溫度范圍,注意,此處的溫度范圍指的是器件規(guī)定的工作溫度范圍,而非實(shí)際應(yīng)用的溫度范圍,本例即為:-40℃至+105℃,而溫度導(dǎo)致的失調(diào)漂移為±0.58mV。同樣,增益溫漂系數(shù)是2ppm/℃,相當(dāng)于±0.029%FS(滿量程)。

            對第一個例子,我們采用2.5V基準(zhǔn)電壓VREF,DAC是16位器件,即最大碼值NMAX為65535。

            另一個問題是使用的便捷性,最好把失調(diào)和增益誤差指定為“最小/最大”值,而溫度影響只能定義為典型值。我們可以用典型值或憑經(jīng)驗(yàn)估計(jì)整個范圍內(nèi)的變化情況,此處采用典型值。

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            關(guān)鍵詞: 測試 DAC 轉(zhuǎn)換器

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