未知電路板原理圖測(cè)繪系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
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3 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
系統(tǒng)軟件運(yùn)行于PC機(jī)平臺(tái)上，通過USB總線對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行控制并接收測(cè)試電路測(cè)試數(shù)據(jù)，根據(jù)接收到的數(shù)據(jù)形成所測(cè)電路板電路連線表。現(xiàn)主要分析與電路測(cè)繪有關(guān)的測(cè)試電路控制程序：
(1)首先利用ADDR1尋址測(cè)試基準(zhǔn)針床，每個(gè)針床都有特定的地址碼，如發(fā)送ADDR1=00000001，表示選中1號(hào)測(cè)試針床，以此為基準(zhǔn)測(cè)試針床來對(duì)其它針床進(jìn)行測(cè)試。
(2)1號(hào)測(cè)試針床利用AD1總線對(duì)其上所有探針進(jìn)行尋址，AD1總線尋址該針床的基準(zhǔn)測(cè)試點(diǎn)，如發(fā)送AD1=00000001，表示尋址到1號(hào)探針，即1號(hào)探針連接D1端。
(3)以ADDR1所尋址針床為基準(zhǔn)，利用ADDR2尋址所有針床，所尋址的針床利用AD2總線對(duì)其上探針進(jìn)行尋址。
(4)以AD1總線所尋址探針為基準(zhǔn)，對(duì)AD2總線所尋址探針進(jìn)行遍歷測(cè)試。
程序偽代碼如下：
for( ADDR1=1 to 20) //假定共有20個(gè)測(cè)試針床，選定基準(zhǔn)測(cè)試針床
{
for( AD1 = 1 to 256) //假定每個(gè)針床上有256個(gè)探針和焊/點(diǎn)相連，選定基準(zhǔn)測(cè)試焊點(diǎn)
{
for( ADDR2 = 1 to 20) //依次尋址所有針床
{
for( AD2 = 1 to 256) //依次尋址測(cè)試針床上所有探針(焊點(diǎn))
{
//測(cè)試電路測(cè)試函數(shù)
?。?br /> }
}
}
}
通過以上測(cè)試程序，即可實(shí)現(xiàn)每個(gè)探針(焊點(diǎn))和其它所有探針(焊點(diǎn))的遍歷測(cè)試，從而獲取電路板上每個(gè)焊點(diǎn)的連接情況。
通過電路板上元器件型號(hào)知識(shí)，利用此套測(cè)繪系統(tǒng)所測(cè)繪的電路板連線表，結(jié)合相應(yīng)PCB設(shè)計(jì)軟件及人工干預(yù)，在某個(gè)引進(jìn)裝備上實(shí)現(xiàn)了未知電路板的測(cè)繪工作，得到了其電路原理圖，為下一步的反設(shè)計(jì)工作奠定了基礎(chǔ)。由于涉及知識(shí)產(chǎn)權(quán)問題，該系統(tǒng)僅應(yīng)用于特殊領(lǐng)域電子設(shè)備。
本文引用地址：http://www.biyoush.com/article/173856.htm
評(píng)論