?、?雙極性脈沖發(fā)生器應(yīng)該設(shè)計(jì)為避免重復(fù)充電和產(chǎn)生雙脈沖。不能靠交換A、B端點(diǎn)來(lái)獲得雙極性性能。

　?、?開(kāi)關(guān)SW1須在脈沖通過(guò)后關(guān)閉10ms～100ms，以確保被試插座不在充電狀態(tài)，它也應(yīng)該先于下個(gè)脈沖到來(lái)前至少開(kāi)啟10ms。電阻R1和開(kāi)關(guān)串聯(lián)以確保器件有一個(gè)慢放電，這樣就避免了一個(gè)帶電器件模式放電的可能性。

　　③ 圖5中評(píng)價(jià)電阻負(fù)載1為：一種截面為0.83mm2～0.21mm2鍍錫銅短路線，長(zhǎng)度不大于75mm。負(fù)載2為：500Ω，±1%，1000V。

　?、?電流傳感器要求

　　——最小帶寬350MHz；

　　——峰值脈沖電流15A；

　　——上升時(shí)間小于1ns；

　　——能采用1.5mm直徑的實(shí)導(dǎo)體；

　　——能提供1mv/mA～5 mv/mA的輸出電壓；

　?、?測(cè)試插座上再疊插一個(gè)插座（第二個(gè)插座疊插在主測(cè)試插座上）的情況，僅在第二個(gè)插座的波形滿足本標(biāo)準(zhǔn)的要求才允許；

圖6 通過(guò)短路線的400V電壓放電電流波形

圖7　通過(guò)500Ω電阻的400V電壓放電電流波形

　　測(cè)試步驟：

　　機(jī)器模式靜電放電測(cè)試時(shí)要求一次測(cè)試至少使用三個(gè)樣本，每個(gè)樣本規(guī)定的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)都要事先進(jìn)行測(cè)試并記錄。

　?、?在試驗(yàn)器插座上（A，B端）插上短路線，分別施加100V、200V、400V電壓，電流探針置于B端處；記錄正和負(fù)的波形，修正波形使其滿足圖6的要求。

　?、?使用500Ω電阻，加電壓±400V，記錄并修正波形使其滿足圖7的要求。

　　③ 按表7確定靜電放電測(cè)試起始電壓。

　?、?加三個(gè)正的和負(fù)的脈沖到每個(gè)被測(cè)試樣本，脈沖之間的間隔至少要1s。

　?、?在室溫下測(cè)試樣本的所有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)。如果要求多個(gè)溫度，首先從最低溫度開(kāi)始。

　　⑥ 如果所有三個(gè)樣本都通過(guò)規(guī)定數(shù)據(jù)的參數(shù)測(cè)試，則再用表7中更高一擋電壓試驗(yàn)。記錄通過(guò)的最高電壓檔，并按表7將被測(cè)器件分類(lèi)。

　?、?如果有一個(gè)或多個(gè)樣本失效，重新用三個(gè)新的樣本，以降低一擋表7中電壓進(jìn)行試驗(yàn)。如果繼續(xù)有失效，再降低一擋，如果還有失效，則停止試驗(yàn)。

　　以上列舉的兩項(xiàng)為LED兼容性測(cè)試的一部分內(nèi)容。

　　九　系統(tǒng)可靠性建模

　　可靠性模型指的是系統(tǒng)可靠性邏輯框圖及其數(shù)學(xué)模型。原理圖表示系統(tǒng)中各部分之間的物理關(guān)系。而可靠性邏輯圖則表示系統(tǒng)中各部分之間的功能關(guān)系，即用簡(jiǎn)明扼要的直觀方法表現(xiàn)能使系統(tǒng)完成任務(wù)的各種串聯(lián)、并聯(lián)和旁聯(lián)方框的組合。

　　了解系統(tǒng)中各個(gè)部分的功能和它們相互之間的聯(lián)系以及對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的作用和影響對(duì)建立系統(tǒng)的可靠性數(shù)學(xué)模型、完成系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)、分配和預(yù)測(cè)都具有重要意義。借助于可靠性邏輯圖可以精確地表示出各個(gè)功能單元在系統(tǒng)中的作用和相互之間的關(guān)系。雖然根據(jù)原理圖也可以繪制出可靠性邏輯圖，但并不能將它們二者等同起來(lái)。

　　邏輯圖和原理圖在聯(lián)系形式和方框聯(lián)系數(shù)目上都不一定相同，有時(shí)在原理圖中是串聯(lián)的，而在邏輯圖中卻是并聯(lián)的；有時(shí)原理圖中只需一個(gè)方框即可表示，而在可靠性邏輯圖中卻需要兩個(gè)或幾個(gè)方框才能表示出來(lái)。隨著系統(tǒng)設(shè)計(jì)工作的進(jìn)展，必須繪制一系列的可靠性邏輯框圖，這些框圖要逐漸細(xì)分下去，按級(jí)展開(kāi)。

　　當(dāng)我們知道了組件中各單元的可靠性指標(biāo)（如可靠度、故障率或MTBF等）即可由下一級(jí)的邏輯框圖及數(shù)學(xué)模型計(jì)算上一級(jí)的可靠性指標(biāo)，這樣逐級(jí)向上推，直到算出系統(tǒng)的可靠性指標(biāo)。這就是利用系統(tǒng)可靠性模型及已知的單元可靠性指標(biāo)預(yù)計(jì)或估計(jì)系統(tǒng)可靠性指標(biāo)的過(guò)程。

　　兼容性的測(cè)試結(jié)果通常和可靠性建模有著密切關(guān)系，兼容性測(cè)試結(jié)果可以輸入數(shù)據(jù)用于建立LED照明器件及系統(tǒng)的可靠性模型。如今，LED照明器件及系統(tǒng)的制造商可以采用工具來(lái)預(yù)測(cè)或研究整個(gè)LED產(chǎn)品的可靠性，包括每個(gè)內(nèi)部及外部因素是如何影響產(chǎn)品的可靠性的。

　　十　結(jié)束語(yǔ)

　　在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)上，過(guò)去人們著重于技術(shù)指標(biāo)和功能研究，但日益發(fā)展的電子產(chǎn)品和復(fù)雜的電磁環(huán)境中，電子產(chǎn)品相互的干擾和受干擾情況已經(jīng)是無(wú)法避免的事實(shí)。如何搞好產(chǎn)品的電磁兼容性，提升自身的抗干擾能力和減少對(duì)外的干擾能力，是如今設(shè)計(jì)者們所面臨的一個(gè)重大問(wèn)題。

　　對(duì)于LED照明領(lǐng)域來(lái)看，LED市場(chǎng)的發(fā)展還處于起步階段，各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)不非常完整和成熟的同時(shí)，也有著巨大的發(fā)展空間。LED燈具越來(lái)越廣泛的被應(yīng)用，其取代傳統(tǒng)照明燈具的趨勢(shì)已經(jīng)十分明顯，此時(shí)更應(yīng)該牢牢把握LED的安全質(zhì)量和可靠性問(wèn)題，只有這樣才能讓這一領(lǐng)域得到更為健康的發(fā)展，而等待LED照明器件及系統(tǒng)的制造商的，將是更為巨大的經(jīng)濟(jì)收益。