（1）測試目的

驗證終端發(fā)射開/關(guān)的過程與時間的關(guān)系符合標準的規(guī)定，避免超過指標要求的發(fā)射開/關(guān)響應(yīng)誤差會增加對其他信道的干擾或本信道上行鏈路的發(fā)射誤差。

（2）測試條件

◆按照圖2建立終端天線連接器與系統(tǒng)模擬器的連接；

◆按照通用呼叫建立過程建立一個呼叫，符合表5的規(guī)定。

表5發(fā)射開/關(guān)時間模板參數(shù)

（3）測試步驟

步驟一：設(shè)置系統(tǒng)模擬器的輸出功率使在天線連接器處的為*106.7dBm/3.84MHZ；

步驟二：測試終端的第一個RACH導(dǎo)頻部分的輸出功率（開功率），測試不包括瞬時功率；

◆測試終端的第一個RACH導(dǎo)頻部分的輸出功率（開功率）之前或之后的關(guān)功率，測試不包括瞬時功率。

（4）預(yù)期結(jié)果

步驟三：在第（2）步中終端的發(fā)射功率不超過終端最大發(fā)射功率的上限和上行開環(huán)功率控制的下限；

◆在第（3）步中終端的發(fā)射功率應(yīng)小于*56dBm。

2.3前導(dǎo)脈沖質(zhì)量

PRACH前導(dǎo)脈沖序列質(zhì)量是根據(jù)核心網(wǎng)要求對終端發(fā)射PRACH前導(dǎo)序列能力的測量，對NodeB（基站）正確解調(diào)PRACH信道提供保證。

在3904個碼片（不包括過渡時間）中觀察到的PRACH前導(dǎo)脈沖序列的EVM（誤差矢量幅度）不應(yīng)該超過17.5%。

在3904個碼片（不包括過渡時間）中觀察到的用于發(fā)射PRACH前導(dǎo)序列的終端調(diào)制載波頻率在±0.1PPM之內(nèi)（與從NodeB接收到的載波頻率相比）

PRACH前導(dǎo)序列的發(fā)射應(yīng)該在使用網(wǎng)絡(luò)指定的簽名參數(shù)和接入時隙進行。

（1）測試目的

證明第一個PRACH前導(dǎo)脈沖的發(fā)射質(zhì)量符合技術(shù)要求中定義的調(diào)制質(zhì)量、載波頻率、接入時隙和簽名的要求。終端在最大發(fā)射功率和模擬小區(qū)邊緣環(huán)境并高于參考靈敏度5dB的無線環(huán)境下進行測試。接入時隙和簽名從RACH信道形成過程中可以選擇的所有可能中隨機選擇。共有384種配置可供選擇，但是為降低測試時間，測試中只選擇其中的10種。

（2）測試條件

測試信道：低信道，中間信道，高信道。

◆根據(jù)圖2連接系統(tǒng)模擬器和終端的天線連接處。

◆使用表6和表7的參數(shù)，根據(jù)通常的呼叫建立流程建立一個呼叫。呼叫建立過程中使用物理層隨機接入流程。

表6前導(dǎo)脈沖質(zhì)量的固定的參數(shù)設(shè)置

注：期望的UE發(fā)射功率的計算與開環(huán)功率控制中的計算方法相同。

表7前導(dǎo)脈沖質(zhì)量的隨機參數(shù)設(shè)置

注：為避免出現(xiàn)固定的測試配置，每一次執(zhí)行PACH過程的時候，表中的參數(shù)根據(jù)設(shè)定范圍隨機選擇，并且每一種選擇被選中的概率是相同的。

（3）測試步驟

步驟一：設(shè)定系統(tǒng)模擬器的發(fā)射功率電平使到達終端天線連接處的電平為。的值應(yīng)該根據(jù)表6的具體的UE的功率等級的要求一致。

步驟二：系統(tǒng)模擬器應(yīng)該建立一個呼叫并測量終端首次的射頻發(fā)射功率。

步驟三：系統(tǒng)模擬器測量使用的接入時隙、接收到的簽名、EVM以及頻率誤差。

步驟四：根據(jù)表7選擇一個新的參數(shù)配置。

步驟五：根據(jù)表8發(fā)送包括BCCH修改信息的PAGINGTYPE1。

◆等待5秒鐘，使終端能夠讀取新的SIB5信息。

◆從步驟（二）開始重復(fù)10次。

（4）預(yù)期結(jié)果

對于步驟（三）中的所有的PRACH前導(dǎo)的發(fā)射測量：

◆EVM不應(yīng)該超過17.5%。

◆頻率誤差不應(yīng)該超過*（0，1ppm+10Hz）。

◆檢測到的接入時隙和簽名應(yīng)該使用正確。

3、結(jié)束語

隨機接入過程是一個初始化的過程。只有隨機接入過程成功，終端才能進行小區(qū)駐留等后續(xù)動作。因此，隨機接入過程是成功通話或進行各項業(yè)務(wù)的基礎(chǔ)。通過對隨機過程的相關(guān)測試，可以有助于提高WCDMA終端的隨機接入成功率，提高WCDMA系統(tǒng)的服務(wù)質(zhì)量。因此，對WCDMA終端的隨機接入過程的測試和研究尤為重要。