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            應(yīng)用于頻率合成器的寬分頻比CMOS可編程分頻器設(shè)計

            作者: 時間:2011-04-14 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            1.3.1 傳統(tǒng)的檢測與置數(shù)邏輯
            在傳統(tǒng)的基于雙模分頻器的分頻器中,是對P計數(shù)器減計數(shù)到0時檢測,并通過一定的時序邏輯產(chǎn)生一個置數(shù)使能信號使得P計數(shù)器和S計數(shù)器進行置數(shù)。其檢測與置數(shù)邏輯電路如圖5所示,當P計數(shù)器減計數(shù)到0時,P計數(shù)器中每個D觸發(fā)器Qn端輸出都為1,這時級聯(lián)的與門邏輯輸出從0跳變到1,形成一個上升沿(為一個檢測信號)。這個上升沿作為帶有復(fù)位功能的D觸發(fā)器(DFF-RE)時鐘輸入,DFF-RE的復(fù)位端由4/5預(yù)分頻器輸出控制,即在嚴格的時序控制下,當檢測到P計數(shù)器減計數(shù)到0時產(chǎn)生一個上升沿信號,此時DFF-RE打開,這個上升沿信號使得DFF-RE輸出從0變?yōu)?,一段時間后DFF-RE關(guān)閉,故形成了一個置數(shù)脈沖,使得計數(shù)器重新置數(shù)。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/156400.htm


            在這種結(jié)構(gòu)中,檢測和置數(shù)的整個過程必須在輸入信號的一個周期內(nèi)完成,從而限制了分頻器的工作。下面通過對傳統(tǒng)檢測置數(shù)邏輯的時序分析來說明在輸入較高時出現(xiàn)掉脈沖的現(xiàn)象,其時序圖如圖6所示,其中fin為分頻器的輸入信號,fp為4/5分頻器的輸出信號,同時作為DFF-RE的復(fù)位信號,Ld0為P計數(shù)器計數(shù)到0時的檢測組合邏輯電路輸出的信號,Ld為置數(shù)使能信號,即DFF-RE的輸出信號,Mode為控制4/5分頻器分頻數(shù)的信號。由圖中可知,在P計數(shù)器減計數(shù)到0時,檢測邏輯輸出一個脈沖(Ld0),從P計數(shù)到0到檢測脈沖信號產(chǎn)生有一個門延遲的t0,檢測脈沖到置數(shù)脈沖(Ld)的產(chǎn)生延遲時間為t1,Mode信號的產(chǎn)生延遲為t2。故從檢測到Mode信號上升沿的總延遲時間為t0+t1+t2,若這個總延遲時間大于了一個輸入信號的周期,如圖6所示,Mode信號控制的4/5預(yù)分頻器本該2次5分頻變?yōu)?次5分頻和1次4分
            頻,從而出現(xiàn)了掉脈沖的現(xiàn)象,最終導(dǎo)致整個分頻比錯誤。


            1.3.2 改進的檢測與置數(shù)邏輯
            根據(jù)系統(tǒng)設(shè)計要求,分頻器工作的最高需達到4.0 GHz,基于傳統(tǒng)的檢測置數(shù)邏輯的分頻器很難穩(wěn)定的工作在此頻率下。因此,在該設(shè)計采用在P計數(shù)器減計數(shù)到1檢測,通過一定的時序控制下,當P計數(shù)器計數(shù)到0時置數(shù),這樣檢測和置數(shù)的過程在2個輸入脈沖周期內(nèi)完成,相對于計數(shù)到0檢測的分頻器,工作頻率可以提高2倍。以下具體分析改進后的檢測置數(shù)邏輯時序。在改進后的檢測置數(shù)邏輯中,如圖4所示,當P計數(shù)器減計數(shù)到0000001時,P計數(shù)器中DFF3~DFF7的QN端輸出都為1,因此AND0輸出由0變?yōu)?,AND0輸出反相信號作為DFF-RE復(fù)位端信號,而4/5分頻器輸出的反相信號作為DFF-RE的時鐘信號。其檢測和置數(shù)時序邏輯圖如圖7所示,當檢測到P計數(shù)到1后,DFF-RE便打開,置數(shù)脈沖的產(chǎn)生延遲為t0,Mode信號的產(chǎn)生延遲為t1,故由檢測到Mode上升沿信號的總延遲為t1+t2,相比圖6,少了一個門延遲,使得4/5預(yù)分頻器正確的進行了2次5分頻,避免了掉脈沖的現(xiàn)象。從對改進的檢測置數(shù)邏輯時序分析可知,改進后的設(shè)計使得分頻器能夠工作在更高的頻率下。

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