基于龍芯一號IP核的EJTAG調(diào)試
目前,隨著嵌入式系統(tǒng)在各個領(lǐng)域中的廣泛應(yīng)用,人們對嵌入式開發(fā)工具的需求也變得非常迫切。嵌入式系統(tǒng)的開發(fā)需要特殊的開發(fā)環(huán)境,一般包括交叉編譯器、交叉調(diào)試器等。交叉調(diào)試器有兩種實現(xiàn)方式:一種是片上調(diào)試,另一種是在目標機端運行監(jiān)控程序來完成調(diào)試。前者是處理器的硬件調(diào)試模塊支持的,如MIPS架構(gòu)的EJTAG,國芯CPU的OnCE等,由于接近硬件底層,可以在裸機狀態(tài)下提供調(diào)試手段,不僅可以調(diào)試監(jiān)控程序、系統(tǒng)軟件,也可以利用邊界掃描單元來測試硬件電路及故障定位;而后者一般是在處理器正常工作后,才可以使用的一種調(diào)試手段。
EJTAG(Enhanced Joint Test Action Group)是MIPS公司根據(jù)IEEE 1149.1協(xié)議的基本構(gòu)造和功能擴展而制定的規(guī)范,是一個硬件/軟件子系統(tǒng),在處理器內(nèi)部實現(xiàn)了一套基于硬件的調(diào)試特性,用于支持片上調(diào)試。
龍芯一號處理器IP核是在龍芯一號處理器基礎(chǔ)上,對功耗、面積和性能等各方面進行改進而得到的高度靈活、適用于更廣泛領(lǐng)域的處理器內(nèi)核。它采用RISC架構(gòu),可運行MIPS III指令集,支持EJTAG調(diào)試功能,采用可配置架構(gòu),可在滿足用戶性能要求的前提下,實現(xiàn)最低成本的產(chǎn)品集成。
1 EJTAG工作機制及實現(xiàn)
1.1 EJTAG組成
所有MIPS的微處理器或是包含MIPS核的SoC芯片組件均提供對EJTAG調(diào)試的支持。EJTAG接口利用JTAG的TAP(Test Access Port)訪問方式,將測試數(shù)據(jù)傳入或者傳出處理器核。EJTAG可實現(xiàn)的功能包括:訪問處理器的寄存器、訪問系統(tǒng)內(nèi)存空間、設(shè)置軟件/硬件斷點、單步/多步執(zhí)行等。如圖1所示,EJTAG調(diào)試功能模塊由4部分組成:CPU核內(nèi)部的組件擴展,硬件斷點單
元,調(diào)試控制寄存器(DCR)以及TAP接口。
1.2 EJTAG工作機制
處理器在某個調(diào)試例外(debug exception,如單步運行、斷點等)產(chǎn)生以后,進入到調(diào)試模式(debug mode),直到DERET指令執(zhí)行以后從調(diào)試模式退出來。在這段時間里,處理器執(zhí)行調(diào)試例外處理過程。在調(diào)試例外處理過程中,調(diào)試軟件通過對TAP處理器的訪問操作,實現(xiàn)了對普通寄存器的訪問、協(xié)處理器的訪問、系統(tǒng)內(nèi)存空間的訪問等功能。系統(tǒng)退出調(diào)試模式以后允許應(yīng)用程序或是系統(tǒng)代碼繼續(xù)執(zhí)行,直到遇到下一個調(diào)試例外。重復(fù)以上過程,EJTAG實現(xiàn)了單步運行或者多步運行等調(diào)試功能。
1.2.1 調(diào)試例外
在體系結(jié)構(gòu)的設(shè)計上,EJTAG并不需要與CPU緊密結(jié)合,但CPU必須提供調(diào)試寄存器、進入調(diào)試模式和在調(diào)試模式下執(zhí)行指令的能力,更重要的是調(diào)試例外的優(yōu)先級必須高于其他處理器的例外(exception)。EJTAG調(diào)試是通過處理器的調(diào)試例外來實現(xiàn)的,調(diào)試例外將CPU從非調(diào)試模式(non-debug mode)轉(zhuǎn)到調(diào)試模式。在調(diào)試模式下也可以再發(fā)生調(diào)試例外,這種例外就叫做“調(diào)試模式例外(debuIg mode exception)”。
MIPS 4KC處理器提供的調(diào)試例外如表1所列。
當CPU執(zhí)行了軟件斷點指令(SDBBP),或者發(fā)生了單步調(diào)試,或者在EJTAG回路中產(chǎn)生了JtagBrk調(diào)試事件,或者發(fā)生了硬件斷點時,CPU就會產(chǎn)生調(diào)試例外。SDBBP是一個標準的MIPS指令集指令,軟件斷點的設(shè)置就是調(diào)試軟件通過把正常的應(yīng)用程序代碼替換成軟件斷點指令來實現(xiàn)的。EJTAG支持指令斷點和數(shù)據(jù)斷點兩種類型的硬件斷點,指令斷點發(fā)生在處理器取指過程中,數(shù)據(jù)斷點發(fā)生加載/存儲傳輸過程中,它們可以設(shè)置在任何地址空間中,包括不能被改寫的ROM空間。調(diào)試例外發(fā)生后,CPU首先屏蔽地址錯誤異常和中斷異常,然后轉(zhuǎn)向調(diào)試例外處理程序的執(zhí)行。調(diào)試例外處理程序是由調(diào)試軟件通過與TAP處理器的配合,利用EJTAG接口實現(xiàn)的。在調(diào)試模式下,CPU仍能夠正常地訪問協(xié)處理器和系統(tǒng)內(nèi)存空間等處理器資源。
調(diào)試寄存器包括DEBUG寄存器、DEPC寄存器和DESAVE寄存器,都被定義在協(xié)處理器中。DEBUG寄存器保存了CPU進入調(diào)試模式的原因,以及同時是否發(fā)生了其他CPU例外的標志位,也被用來控制單步運行的設(shè)置。DEPC(Debug Exception Program Counter)寄存器保存了發(fā)生調(diào)試例外時將要執(zhí)行的那條指令的地址,當退出調(diào)試模式后,該地址恢復(fù)到PC寄存器中。DESAVE (Debug Exception Save)寄存器是一個草稿寄存器,被調(diào)試軟件用在對普通寄存器的處理過程中,該寄存器的內(nèi)容不需要保存。
1.2.2 調(diào)試例外處理過程
所有的調(diào)試例外都有相同的基本流程:
①DEPC保存了中斷返回后重新開始執(zhí)行的指令PC值,設(shè)置DEBUG寄存器中的DBD位(表示DEBUG中斷是否發(fā)生在分支延遲槽中)。如果不在延遲槽中,DEPC保存的就是當前的PC值;如果在延遲槽中,DEPC保存的就是那條跳轉(zhuǎn)指令的PC值。
②根據(jù)調(diào)試例外更新Debug寄存器中的內(nèi)容DSS,DBp,DDBL,DDBS,DIB,DINT位)。
③DEBUG寄存器中的DExcCode域變?yōu)榉嵌x的。
④DEBUG寄存器中的Halt和Doze位更新。
⑤在調(diào)試處理開始時設(shè)置IEXI位來確定是否精確中斷。
⑥D(zhuǎn)EBUG寄存器中的DM位設(shè)置為1。
⑦處理器開始從調(diào)試例外向量取指令進行例外處理。
處理過程用程序描述如下:
2 龍芯一號處理器IP核簡介
龍芯一號處理器IP核是北京神州龍芯集成電路設(shè)計有限公司與中國科學(xué)院計算技術(shù)研究所共同研制的,兼顧通用及嵌入式CPU特點的32位處理器內(nèi)核。龍芯一號處理器IP核具有可配置特性,用戶可以根據(jù)自己的需求進行選擇配置,從而定制出最適合用戶應(yīng)用的處理器結(jié)構(gòu)。圖2顯示了龍芯一號IP核的可配置結(jié)構(gòu),其中虛線部分表示用戶可根據(jù)自己的需求進行選擇配置,從而定制出最適合用戶應(yīng)用的處理器結(jié)構(gòu)。
GS32S是龍芯一號處理器系列中的一款,采用RISC架構(gòu),可運行MIPS III指令集,有7級流水線,具有32位整數(shù)單元,典型工作頻率為200~266 MHz,典型功耗為0.5W。GS32S不含浮點部件(FPU)、媒體部件(MMX),以及哈佛結(jié)構(gòu)SRAM接口。固定內(nèi)核、EJTAG、TLB、Cache、AMBA接口和協(xié)處理器接口為固定配置。圖2中的陰影部分為GS32S處理器的配置模塊。
3 GS32S處理器EJTAG調(diào)試的實現(xiàn)
3.1 TAP處理器的訪問
GS32S CPU從EJTAG Probe取指執(zhí)行,或向EJTAGProbe訪問數(shù)據(jù)(Load/Store),實現(xiàn)處理器進入調(diào)試模式后的調(diào)試例外執(zhí)行,整個處理過程需要調(diào)試軟件通過Probe監(jiān)測進行。在這種情況下,EJTAG的TAP就相當于一個從設(shè)備,TAP模塊接收處理器內(nèi)部對dmseg段進行的取指、Load/Store操作等發(fā)出的訪問,等待外部響應(yīng)。
GS32 CPU處于調(diào)試模式時,如果ProbEn有效,則對0xFF200000~0xFF2FFFFF的訪問轉(zhuǎn)向dmseg段;如果ProbTrap有效,則發(fā)生調(diào)試例外的處理器轉(zhuǎn)向0xFF200200取指。TAP處理器訪問流程如圖3所示。
發(fā)生調(diào)試例外時,如果DCR中的ProbTrap位是1,則GS32S CPU跳轉(zhuǎn)到0xFF20 0200取指執(zhí)行的過程如下:
①處理器把PC值(如0xFF200200)送到TAP模塊中的Address寄存器中。
②處理器寫TAP模塊中的ECR寄存器,設(shè)置PrAcc=1,PRnW=0,Psz[1:0]=2。
③處理器不停地測試PrAcc位,為1處于等待狀態(tài)。
④EJTAGProbe選擇ECR寄存器,串行移出其內(nèi)容,看PrAcc 位是否為1。為1表示處理器等待通過TAP輸入要執(zhí)行的指令,同時也表示地址寄存器的值是有效的。
⑤EJTAG Probe判斷ECR寄存器的PRnW位,0表示讀。
⑥EJTAGProbe選擇地址寄存器,并移出其內(nèi)容。
⑦EJTAG Probe選擇數(shù)據(jù)寄存器,把對應(yīng)于上一步地址的指令移入數(shù)據(jù)寄存器里。
⑧EJTAG Probe選擇ECR寄存器,把PrAcc位置0,其他位保持不變,表示開始由處理器來執(zhí)行數(shù)據(jù)寄存器中的指令。
⑨處理器測試PrAcc值為0,把數(shù)據(jù)寄存器中的指令取走執(zhí)行。
⑩處理器把PC值加4,發(fā)出讀下一條指令的命令,因為地址仍然在dmseg區(qū)域中,所以重復(fù)上面的過程,讀入下一條指令。
由于流水線的存在,發(fā)生在dmseg內(nèi)的Load/Store操作分2步進行。第1步,取指譯指;第2步,將指定地址的數(shù)據(jù)裝入寄存器/將寄存器的數(shù)據(jù)裝入指定地址。在指令執(zhí)行過程中這2步之間會有間隙,為了獲得正確的執(zhí)行結(jié)果,需要檢測Address寄存器里的內(nèi)容是否為操作數(shù)地址。若不是則插入nop指令,繼續(xù)檢測Address寄存器里的內(nèi)容。
3.2 與標準的EJTAG的差異性及應(yīng)對措施
在實現(xiàn)GS32S EJTAG調(diào)試功能的過程中,發(fā)現(xiàn)GS32S處理器的EJTAG與標準EJTAG存在著差異性,因此需要調(diào)試軟件針對這些差異性采取相應(yīng)的應(yīng)對措施。
(1)TAP狀態(tài)機進入復(fù)位狀態(tài)后異常
“Test-Logic-Reset”是TAP有限狀態(tài)機16個狀態(tài)中的其中之一。一般來說,在處理器復(fù)位后,TAP狀態(tài)機會處于不確定的狀態(tài)。為了使TAP狀態(tài)機正常工作,需要在5個時鐘周期內(nèi),置高TDI輸入,讓TAP狀態(tài)機進入“Test-Logic-Reset”的指定狀態(tài)。GS32S處理器的TAP狀態(tài)機在進入“Test-Logic-Reset”狀態(tài)后,會改變3個寄存器的內(nèi)容:清除DCR寄存器的ProbEn和ProbTrap位;置高協(xié)處理器Debug的DM位;修改協(xié)處理器DEPC的內(nèi)容為0xBFC00500。然后處理器進入調(diào)試模式中,這樣的結(jié)果會導(dǎo)致后繼的調(diào)試過程被打斷。
應(yīng)對措施:調(diào)試軟件限制TAP狀態(tài)機進入“Test-LogiC-Reset”狀態(tài)的時機與次數(shù),并在TAP狀態(tài)機進入“Test-Logic-Reset”狀態(tài)后,進行必要的清理工作。
(2)進入調(diào)試模式后PC的輸出值高8位全為零
進入調(diào)試模式后,處理器會把PC值送到TAP模塊中的Address寄存器中,而通過TAP模塊輸出的Address值高8位全為零。由于對發(fā)生在dmseg段內(nèi)的Load/Store操作,調(diào)試軟件會依據(jù)Address寄存器里的內(nèi)容是否為操作數(shù)地址來判斷Load/Store操作是否執(zhí)行完畢,因此會發(fā)生比較總是失敗的情況。
應(yīng)對措施:該情況僅僅影響Address寄存器輸出值的高8位數(shù)據(jù)(0xFFXXXXXX~0x00XXXXX),因此可在判斷Address寄存器數(shù)據(jù)是否等于操作數(shù)地址時,只比較低24位數(shù)據(jù)。
(3)未被正確初始化的處理器會進入死機狀態(tài)
目標機上電后,處理器將從復(fù)位例外向量處取指令執(zhí)行。如果復(fù)位向量處為隨機數(shù)據(jù)或不完整的初始化代碼,則處理器執(zhí)行后將會進入死機狀態(tài),不再響應(yīng)任何EJTAG的TAP處理器的訪問。
應(yīng)對措施:首先讓EJTAG TAP執(zhí)行EJTAGBOOT的命令,處理器復(fù)位后將會進入調(diào)試模式,此后即可使用TAP處理器的訪問機制進行正常的EJTAC調(diào)試操作。
結(jié) 語
EJTAG是一種不影響、不干擾系統(tǒng)運行的新型開發(fā)調(diào)試技術(shù),它改變了硬件開發(fā)工具滯后、出現(xiàn)新體系結(jié)構(gòu)且專用于特定處理器的落后局面,提供了一種容易實現(xiàn)的硬件調(diào)試標準,具備了實時調(diào)試特征,使用5針EJTAG接口實現(xiàn)了硬件斷點、軟件斷點等調(diào)試功能。本文在實現(xiàn)了EJTAG調(diào)試功能的基礎(chǔ)上,開發(fā)了以USB為快速通信接口、用CPLD硬件實現(xiàn)JTAG時序的MIPS仿真器產(chǎn)品,實現(xiàn)了對GS32S處理器EJTAG調(diào)試的支持,并在展訊、海爾等公司基于龍芯一號IP核的項目研究中得到了驗證。
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