同理，可以對(duì)重要的差分信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行仿真。而DDR2中新增加的ODT(On Die Termintation)功能在仿真中可以得到體現(xiàn)。通過不設(shè)置以及設(shè)置ODT的值，可以直觀地在眼圖以及客觀地在仿真結(jié)果數(shù)據(jù)一欄中得出合成差分信號(hào)的質(zhì)量。圖5為差分信號(hào)的仿真結(jié)果眼圖。

　　通過眼圖和數(shù)據(jù)，可以確定最優(yōu)差分阻抗和ODT值的設(shè)置。

　　高速信號(hào)的PCB優(yōu)化設(shè)計(jì)，可以在PCB的設(shè)計(jì)階段，運(yùn)用Hyperlyxn仿真工具和IBIS驅(qū)動(dòng)模型，對(duì)高速信號(hào)設(shè)計(jì)中的關(guān)鍵信號(hào)進(jìn)行完整性仿真和時(shí)序分析、EMI仿真、分析和優(yōu)化，可以發(fā)現(xiàn)PCB制好后調(diào)試中可能出現(xiàn)的問題，從而可以節(jié)約成本、縮短產(chǎn)品的設(shè)計(jì)時(shí)間。