LKT4200加密芯片的安全性分析
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1、侵入式攻擊
開封
蝕刻
顯微鏡
逆向工程
機(jī)械探測
聚焦離子束
2、半侵入性攻擊
·單一故障攻擊(SFI)
·靜態(tài)/差分故障分析(SFA / DFA)
正常工作范圍以外的
·復(fù)位
· 時(shí)鐘
· 供電電壓
·溫度
·光擾動(dòng)攻擊
·燈閃爍
· 干擾攻擊
·電場和磁場感應(yīng)
·輻射攻擊
3、本地的非侵入性攻擊
- 簡單的功率分析
- 時(shí)序和波形攻擊
- 接觸片上的電源走線(VCC，RST，I / O)
- 電源由于電磁輻射的痕跡
- 差分功耗分析
- 多次測量
- 代碼的逆向工程
- 攻擊鍵
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