嵌入式系統(tǒng)中存儲(chǔ)器性能研究
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時(shí)間：2012-03-05
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò)
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2 測(cè)試用數(shù)據(jù)
由前節(jié)討論可知，動(dòng)態(tài)內(nèi)存除了內(nèi)存單元，還有地址譯碼器，選擇器，控制器，放大器等部件。為此針對(duì)不同的部件，設(shè)計(jì)了不同的數(shù)據(jù)和讀寫(xiě)方式來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
2．1 普通數(shù)據(jù)
普通數(shù)據(jù)就是全“0”或者全“1”。寫(xiě)入全“0”或者全“1”的數(shù)據(jù)，然后讀取校驗(yàn)，來(lái)驗(yàn)證內(nèi)存單元是否正常工作。
2．2 棋盤(pán)數(shù)據(jù)
圖4表示了棋盤(pán)數(shù)據(jù)。在內(nèi)存單陣列中寫(xiě)入如國(guó)際象棋棋盤(pán)一樣的數(shù)據(jù)。由于與每一位數(shù)據(jù)相鄰的數(shù)據(jù)都不一樣，棋盤(pán)數(shù)據(jù)可以用來(lái)檢測(cè)內(nèi)存單元間的泄漏。本文引用地址：http://www.biyoush.com/article/149522.htm
2．3 行帶狀數(shù)據(jù)
圖5表示了行帶狀數(shù)據(jù)。采用行帶狀數(shù)據(jù)可以檢測(cè)Word線之間的泄漏。
2．4 列帶狀數(shù)據(jù)
圖6表示了列帶狀數(shù)據(jù)，用來(lái)檢測(cè)Bit線(數(shù)據(jù)線)之間的泄漏。
2．5 移位數(shù)據(jù)
讀取內(nèi)存數(shù)據(jù)時(shí)，Word線選中一行內(nèi)存單元，數(shù)據(jù)還要通過(guò)選擇器，經(jīng)過(guò)列地址選擇，到達(dá)數(shù)據(jù)線。使用移位數(shù)據(jù)，使得每次只有一個(gè)數(shù)據(jù)引腳為1，其余都為0，檢測(cè)相互是否有影響。
評(píng)論