基于FPGA的抗SEU存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)
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5 結(jié)束語(yǔ)
本文引用地址：http://www.biyoush.com/article/148367.htm本設(shè)計(jì)中的抗SEU存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)可通過(guò)ACTEL的ProAsic系列A3P400 FPGA實(shí)現(xiàn)，并可使用與其配套的Liber08.5 EDA工具進(jìn)行代碼的編輯和原理圖的繪制，并進(jìn)行功能仿真與電路的綜合。通過(guò)仿真可以看到，本設(shè)計(jì)可以達(dá)到預(yù)期的目的，它既可實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)器的抗SEU設(shè)計(jì)，又可以滿足對(duì)存儲(chǔ)器使用靈活性的要求，而且具有功能完善、適應(yīng)性強(qiáng)、電路簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，非常適用于星載RAM的抗輻射電路設(shè)計(jì)。
評(píng)論