使用纮康HY11P系列單芯片實現(xiàn)電壓與溫度量測應(yīng)用
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- 4 技術(shù)規(guī)格
4.1 技術(shù)規(guī)格
本文引用地址：http://count.eepw.com.cn/count/doRedirect?http://www.biyoush.com/article/133397.htm操作電壓 ：2.4V~3.6V。
功耗 ：0.2mA ~ 0.75mA。
分辨率 ：Voltage: 1uV ~ 10uV;Temperature: 0.1℃。
顯示速率(Hz) ：依不同模式OSR設(shè)定而不同。
顯示值 ：±400.00mV, ±10.000mV, ±400.0mV, ±150.0℃。
4.2 實驗方式
實驗儀器： Power Supply - Agilent E3630A
Calibrator- Fluke 5500A
USB/SPI Communication Board - PIC18LFxx Base
本文針對HY11P13芯片采用下圖4-1 A/D網(wǎng)絡(luò)配置方式，并使用DC電壓值輸入做靜態(tài)INL(積分非線性)誤差測試，在ΔVR=1V，ΔVIN為校準(zhǔn)器Fluke5500A電壓輸入訊號源，輸入訊號為±450mV，1mV/Step范圍內(nèi)進(jìn)行分析。
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圖 4?1 A/D INL測試電路圖
本文在所有輸入訊號測量完成后，采取±300mV輸入訊號處的數(shù)字輸出值當(dāng)作校正點，取得一線性值(ADOCAL)，再以實際每一點數(shù)字輸出值和該線性值(ADOCAL)做INL誤差計算：
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下表4-2為針對DC輸入信號源進(jìn)行靜態(tài)INL誤差分析，結(jié)果顯示在該輸入范圍內(nèi)整體積分非線性誤差∣ INL error ∣ ≦ 10PPM。
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表 4?2 A/D INL測試分析表
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