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      Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測(cè)試成本

      —— Multitest的Dura?Kelvin顯著降低總測(cè)試成本
      作者: 時(shí)間:2011-07-06 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

        面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商公司,日前欣然宣布其Dura®Kelvin再次證明在超長(zhǎng)的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國際性IDM大批量生產(chǎn)廠,Dura®Kelvin顯著降低了總體測(cè)試成本。

      本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/121118.htm

        在項(xiàng)目期限內(nèi),首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura®Kelvin明顯超過了所有目標(biāo),使用壽命已超過4百萬次插撥,這是設(shè)定目標(biāo)的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98.5%。真正令人贊嘆的是與清洗頻率相關(guān)的成就。

        Dura®Kelvin 僅需要在大約100個(gè)小時(shí)之后清洗。與原來的測(cè)試單元配置相比,這使與清洗相關(guān)的測(cè)試單元停機(jī)時(shí)間降低了90%。尤其對(duì)于低溫測(cè)試而言,這具有重要影響。



      關(guān)鍵詞: Multitest 測(cè)試座 Dura-Kelvin

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