主辦：《電子產(chǎn)品世界》雜志社　慕尼黑(上海)有限公司

　　時間：2011年3月15日

　　地點(diǎn)：上海新國際博覽中心

　　測試測量技術(shù)始終保持著廣泛而活躍的市場需求，特別是在被動元件測試和高性能電子測試上的發(fā)展?jié)摿薮?。擴(kuò)大內(nèi)需的政府舉措更是給測試測量產(chǎn)業(yè)發(fā)展的巨大空間，其中很大一部分投入集中在與國防、航空航天和高性能測試領(lǐng)域，促使中國高端測試測量市場逆勢上揚(yáng)，保持旺盛的活力。有鑒于此，《電子產(chǎn)品世界》將舉辦“第四屆國際測試儀器及應(yīng)用技術(shù)大會”，會上將探討如何選擇最新的測試測量儀器產(chǎn)品和測試測量解決方案，為廣大參會者帶來對測試測量領(lǐng)域的全新了解，并且對他們的實際工作有指導(dǎo)作用。論壇面向測試測量儀器的應(yīng)用人員和測試系統(tǒng)開發(fā)者及應(yīng)用者，包括工業(yè)、通信、航空航天、國防等行業(yè)的研發(fā)與應(yīng)用工程師、教育工作者。

　　《電子產(chǎn)品世界》雜志社與慕尼黑(上海)有限公司將于2011年3月15日在上海新國際博覽中心共同舉辦“EEPW第四屆國際測試儀器及應(yīng)用大會(ITMAF2011)” 期待您的參與!

　　主要議題

　　主題(上午)：測試應(yīng)用與數(shù)據(jù)采集

　　主題(下午)：半導(dǎo)體及生產(chǎn)設(shè)備測試測量解決方案

　　半導(dǎo)體測試技術(shù)

　　無源器件測試解決方案

　　高可靠性測試測量解決方案

　　航空航天測試應(yīng)用與數(shù)據(jù)采集

　　自動化測試方案平臺設(shè)計與解決方案及最新發(fā)展趨勢

　　雷達(dá)、射頻微波測試測量解決方案

　　苛刻環(huán)境下對測試測量儀器的特殊要求

　　目標(biāo)聽眾

　　測試測量儀器的應(yīng)用人員和測試系統(tǒng)開發(fā)者及應(yīng)用者，包括集成電路半導(dǎo)體、工業(yè)、通信、航空航天、國防等行業(yè)的研發(fā)與應(yīng)用工程師、教育工作者。