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            測試LTE:您需要知道什么

            作者: 時間:2010-09-25 來源:電子產品世界 收藏

              由于一些測試(如功率控制)的動態(tài)性質,所以需要使用信令協(xié)議來建立測量條件。這就要求測試設備必須包括協(xié)議棧和模擬演進型節(jié)點B(eNB)基站。由于這些測量通常是由RF工程師而不是協(xié)議專家來執(zhí)行的,所以所用的測試設備必須易于配置,使工程師能夠將精力集中于測量本身。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/112977.htm

              

              協(xié)議棧開發(fā)者面臨的主要挑戰(zhàn)之一是確保狀態(tài)變化響應要求得到滿足。雖然規(guī)范已經將終端設備的可能狀態(tài)數量減少到RRC_IDLE和RRC_CONNECTED,但是在需要發(fā)送數據時,從一種狀態(tài)變?yōu)榱硪环N狀態(tài)所需的時間將構成時延預算的一大部分。在 RRC_IDLE模式下,終端設備盡可能將自身處于低功耗狀態(tài),以確保出色的電池壽命,接收機被周期性地激活以檢查尋呼消息。當數據傳輸時間預定后,終端必須處于喚醒狀態(tài)并快速同步其上行鏈路。

              在過程中,用于生成測試用例的工作量常常與創(chuàng)建協(xié)議棧的工作量一樣多,所以擁有全面而高效的測試設施很重要。為了能夠細分測試,重要的是能夠測量用戶平面和控制平面中的每個子層。診斷功能在查找故障時很重要。通常,這包括帶時間戳的消息日志記錄和解碼。但重要的是這也可以用于每個子層,以提供跟蹤信令消息流程細節(jié)的功能(從MAC PDU直到RRC消息),從而確保定時要求得到滿足。

              要想能夠為每個層創(chuàng)建測試情景,就必須擁有對測試設備的詳細控制,但這需要盡可能地易于使用,以避免痛苦的學習過程。圖形化測試描述(例如由場景向導所提供的)提供了定義新測試的最清晰方法(圖1)。

              性能測試

              一旦RF、基帶、協(xié)議棧和應用層實現(xiàn)集成,接下來就需要對整體終端性能進行全面測試。在此階段期間,必須查出和消除數據傳輸瓶頸,以最大化數據吞吐量——包括在正常和極端溫度及電源電壓條件下。另外還需要在滿負荷條件下測量功耗、熱特性、電磁兼容性(EMC)、發(fā)射及磁化率。一般情況下,這需要使用2x2下行鏈路多輸入多輸出(MIMO)技術。

              測試設備要能夠在小區(qū)之間無縫交接數據,同時最小化對數據吞吐率的影響,就如能夠在不同無線接入技術之間進行交接數據,同時保持數據連接一樣。已有多家供應商推出了設計緊湊、靈活和模塊化的測試儀器。測試產品就支持用于測試終端性能的所有功能(圖2)。

              雖然LTE物理層使用循環(huán)前綴來增加對多徑效應的抵制,但需要對之進行測試,以確保正確運行。將此測試留到現(xiàn)場試驗階段會增加開發(fā)風險?,F(xiàn)在測試設備供應商提供了內建衰落模擬器和噪聲發(fā)生器的工具,用來在實驗室中模擬實際信號條件。

              LTE終端的一個重要性能參數是其實現(xiàn)和保持與下行鏈路信號同步的能力。LTE OFDMA傳輸方式使用頻率間隔為15 kHz的子載波。接收機也必須對子載波處于精確調諧狀態(tài),即使存在多普勒頻移效應也不例外。不同步會導致子載波間的相互干擾,從而降低信噪比。要檢驗終端的行為,同樣必須能夠在實驗室中模擬多普勒頻移效應。



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