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            EEPW首頁 > EDA/PCB > 業(yè)界動態(tài) > Intel展示新材料 極紫外光刻走向?qū)嵱?/p>

            Intel展示新材料 極紫外光刻走向?qū)嵱?/h1>
            作者: 時間:2010-06-17 來源:驅(qū)動之家 收藏

              新式半導(dǎo)體技術(shù)中,極紫外(EUV)被認為是最有前途的方法之一,不過其實現(xiàn)難度也相當高,從上世紀八十年代開始探尋至今已經(jīng)將近三十年, 仍然未能投入實用。極紫外面臨的關(guān)鍵挑戰(zhàn)之一就是尋找合適的光刻膠(photoresist),也就是用來在芯片層表面光刻出特定圖案的材料。它必須對極紫外輻射 非常敏感,這樣才能刻出圖案,但同時又必須能夠抵御隨后的蝕刻和其他處理步驟。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/110021.htm

              公司內(nèi)部一直在用微曝光設(shè)備(MET)對各種不同材料進行試驗和評估,目的就是尋找一種能夠同時滿足高敏感度、高分辨率、低線寬粗糙度 (LWR)的光刻膠材料,最近終于取得了重大突破。

              在國際光學(xué)工程學(xué)會(SPIE)舉行的光刻大會上,就進行了這方面的展示,使用一種正型化學(xué)放大光刻膠(CAR)結(jié)合極紫 外底層,以及一種相應(yīng)的漂洗劑,最終達成了22nm半節(jié)距(half pitch)分辨率,并滿足敏感度和LWR要求。

              據(jù)此驕傲地宣布,經(jīng)過數(shù)十年的不懈努力,極紫外光刻技術(shù)已經(jīng)從研究層面邁向?qū)嵱茫斎涣?,真正商用?尚需時日。

              藍色部分即代表光刻膠



            關(guān)鍵詞: Intel 光刻

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