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            USB 3.0線纜和連接器的阻抗和插損測試

            作者: 時間:2010-01-29 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

              

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/105724.htm

             

              式2 用來將圖2中測到的插損 轉(zhuǎn)換到90歐姆差分阻抗。圖3中的兩個曲線給出了100歐姆和90歐姆特征阻抗的的回波損耗。

              

             

              Figure 3: Return loss measured with 100 ohm reference (dotted line) and 90 ohm (solid line) reference

              圖3:100 歐姆(虛線)和90歐姆參考(實線)的回波損耗

              USB 3.0 線纜和的差分阻抗可以使用校正的TDR系統(tǒng)測量插損而得出。通過對連接到待測器件的參考平面(基線校正)運行開路,短路,負載進行校正。通過簡單的轉(zhuǎn)換測試系統(tǒng)和待測器件之間的不同阻抗進行插損補償。

              References

              參考:

              [1] “Time Domain Spectrum Analyzer and "S" Parameter Vector Network Analyzer”, James R. Andrews, Picosecond Pulse Labs application note AN-16a, November 2004

              [2] “converting s-parameters from 50-ohm to 75-ohm Impedance”, Dallas Semiconductor/Maxxim application note November 21, 2003

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